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【會議回顧】華屹TGV全工藝AOI檢測技術首秀iTGV 2025

【會議回顧】華屹TGV全工藝AOI檢測技術首秀iTGV 2025

2025年6月26-27日,第二屆國際玻璃通孔技術創新與應用論壇(iTGV 2025)在深圳舉行。會議由中國科學院微電子研究所、國際電氣電子工程協會電子封裝學會廣州分會(IEEE-EPS Guangzhou Chapter)、未來半導體主辦。

 

國際玻璃通孔技術創新與應用論壇(iTGV)是專注于玻璃通孔(Through-Glass Via, TGV)領域的高規格專業技術論壇,旨在推動TGV技術的研發、創新和產業化應用。本次論壇聚焦玻璃基板技術在先進封裝、光電及AI領域的前沿應用,促進全球范圍內的技術交流與產業合作,加速TGV技術在高科技領域的推廣落地,為電子封裝和光電集成等新興行業注入強大動力。


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本次峰會匯聚了來自晶圓代工、封裝測試、設備材料等玻璃基產業鏈上下游的數百家頭部企業及科研機構。華漢偉業子公司—華屹超精密攜TGV全工藝AOI檢測技術及方案首次亮相,與業界同仁交流探討,為產業鏈的協同創新貢獻一份力量。

 

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本次論壇,華屹超精密受邀發表了《TGV全工藝AOI檢測技術及方案》的主題演講,引發了行業專家及各大廠商的廣泛關注,現場氣氛熱烈。

 

在本次演講中,系統解析了TGV全工藝流程——從來料檢測、激光誘導、化學蝕刻,到PVD/電鍍金屬化及重布線層(RDL)制備中的AOI關鍵技術及方案。同時介紹了自研的AOI檢測設備,從創新檢測原理到智能返修閉環,再到全流程數據追溯,與業界同仁深度交流TGV全流程質量監控的最佳實踐與技術難點,共同探討AOI在推動先進玻璃基封裝技術發展中的關鍵作用,促進工藝優化與良率提升。

 

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會議期間,華屹展位人流不斷,吸引了眾多行業專家與客戶駐足交流。在展臺交流區,現場團隊與行業伙伴聚焦實際應用痛點、核心工藝挑戰及市場趨勢,展開了一對一的深度對話,針對其關注的問題提供了專業、有效的解決思路,通過詳細講解和實例展示,生動呈現了TGV全工藝AOI檢測的技術優勢,引發了與會者的強烈共鳴與深入探討,碰撞出更多火花。


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在AI算力需求爆發式增長、先進封裝市場競爭日趨白熱化的背景下,玻璃通孔(TGV)基板技術已成為海內外龍頭企業突破芯片性能瓶頸、搶占技術制高點的核心革新路徑。

 

以此次論壇為新起點,華屹將持續深耕尖端TGV工藝與AOI智能檢測核心能力建設,深化技術創新,攻克關鍵工藝難題,不斷拓展應用邊界,進一步打通產業鏈上下游協同路徑,促進產業變革升級。


審核編輯(
黃莉
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