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歐姆龍成功事例:半導體爐管wafer凸出的遠距離穩定檢測方案

歐姆龍成功事例:半導體爐管wafer凸出的遠距離穩定檢測方案

應用介紹

【行業】SEMI

【設備】爐管

【用途】用于晶圓的批量熱處理

 

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使用場景

檢測石英晶圓舟晶圓是否有突出,防止自動取片時發生異常。

 

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場景:晶舟上wafer的突出檢測


解決課題

1、多達150片wafer時的高度檢測,容易發生wafer的橫向移動,需要穩定檢測。

2、因檢測距離遠,調試時光軸對準難度大。


價值提案

核心產品:距離設定型光電開關 E3Z-LR

1級激光光源,保證遠距離的檢測下可檢測1mm的位置變化。

激光束方向的變化可被抑制并且光點直徑可自由更改,方便遠距離時光軸的調整。

 

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相關產品

E3Z-LT / LR / LL

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/1747/

 

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若您對本產品感興趣,歡迎掃碼留下您的聯系方式,歐姆龍工程師將盡快與您聯絡!

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唐楠
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