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引線框架視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)

引線框架視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)

方案背景

引線框架作為半導(dǎo)體、微電子封裝的專用材料,借助于鍵合材料(金絲、鋁絲、銅絲)使芯片內(nèi)部電路引出端(鍵合點(diǎn))通過(guò)內(nèi)引線實(shí)現(xiàn)與外引線的電氣連接,是形成電氣回路的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)件。作為內(nèi)部電路與外部導(dǎo)線連接的橋梁,引線框架起到了穩(wěn)固芯片、傳導(dǎo)信號(hào)、傳輸熱量的作用。

作為半導(dǎo)體封裝的關(guān)鍵一環(huán),引線框架需要在共面性、強(qiáng)度、彎曲等方面達(dá)到較高的標(biāo)準(zhǔn),它的質(zhì)量將直接影響半導(dǎo)體封裝的質(zhì)量。然而,引線框架在其生產(chǎn)、加工的過(guò)程中,由于各種各樣的因素,不可避免地會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)沖,漏沖,臟污,氧化,毛刺,壓傷,變形,漏鍍,鍍偏等缺陷。伴隨當(dāng)今芯片封裝的微型化發(fā)展,在流水線中引入機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng),能有效提升產(chǎn)品合格率,降低生產(chǎn)成本,縮短開(kāi)發(fā)周期。

漏沖

臟污

變形

方案難點(diǎn)

1)目前國(guó)內(nèi)的芯片封裝缺陷檢測(cè)技術(shù)大多停留在人工檢測(cè)和半自動(dòng)檢測(cè)階段,檢測(cè)效率偏低,檢測(cè)質(zhì)量得不到保障;

2)引線框架尺寸較為小巧,結(jié)構(gòu)較為扁平;

3)流水線上產(chǎn)品放置密度較高;

4)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)環(huán)境受機(jī)械影響有較大震動(dòng)。

方案概述

硬件選型:MER-503-36U3C工業(yè)相機(jī)

考慮到現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境因沖床原因震動(dòng)嚴(yán)重,選用幀曝光相機(jī),整幅畫面通過(guò)同一時(shí)間曝光,避免成像結(jié)果受到環(huán)境震動(dòng)影響;同時(shí)產(chǎn)品表面可能存在紅斑缺陷,彩色相機(jī)能夠滿足算法檢測(cè)需求;500萬(wàn)像素相機(jī)符合客戶缺陷檢測(cè)精度需求。


軟件/算法:C# + HALCON

C# WINFORM界面能夠滿足客戶快速開(kāi)發(fā)需求,且界面風(fēng)格比較自由,可根據(jù)客戶自由搭配選擇。HALCON作為德國(guó)MVTec公司開(kāi)發(fā)的一套完善的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器視覺(jué)算法包,HALCON算法庫(kù)運(yùn)算速度快,魯棒性好,算子豐富,可以節(jié)約產(chǎn)品的成本,縮短軟件開(kāi)發(fā)周期。

測(cè)試結(jié)果

漏沖

變形

廢屑1

微信圖片_20220517172740.png

廢屑2

帶式壓傷1

微信圖片_20220517172749.png

帶式壓傷2

帶式壓傷3

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黃莉
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