包絡跟蹤技術探討及測試方案
2014/4/28 10:33:51
-
資料格式：
zip
-
資料大小：
1.614MB
-
授權方式：
免費
-
簡介：
怎樣使用來自射頻PA的輸入信號實現包絡跟蹤ET，以確定關鍵的包絡跟蹤參數。基于這些參數，工程師們提出了基于PXI的測量系統并對其進行分析，該系統可滿足包絡跟蹤測試的嚴格要求。
更多內容請訪問 NI-美國國家儀器有限公司
（http://c.gongkong.com/?cid=49325)
投訴建議
版權聲明
提交
查看更多評論
其他資料
LabVIEW 2015評估版軟件
全新高性能CompactRIO控制器簡化工業控制系統復雜度
NI myRIO入門實驗指導書
《基于NI ELVIS的傳感器測量及應用》實驗指導書
NI LabVIEW 2012快速自定義靈活測試