應(yīng)用介紹

【行業(yè)】SEMI

【設(shè)備】測試分選機(jī)

【用途】用于將IC芯片按照要求進(jìn)行分類和分選

應(yīng)用場景

tray盤內(nèi)IC芯片的浮起檢測。

解決課題

1、需要滿足設(shè)備的小型化設(shè)計(jì)，達(dá)到省空間的目的。

2、實(shí)現(xiàn)對于芯片1mm浮起的穩(wěn)定檢測。

價(jià)值提案

核心產(chǎn)品：智能激光傳感器 E3NC

價(jià)值點(diǎn)1.

備有網(wǎng)絡(luò)型放大器，方便導(dǎo)入并監(jiān)控傳感器實(shí)時(shí)狀態(tài)。同時(shí)，放大器采用分離設(shè)計(jì)，既保證了檢測頭的體積小，也可在不同環(huán)境下調(diào)整放大器設(shè)置。

價(jià)值點(diǎn)2.

1級(jí)激光光源，1m檢測距離時(shí)的2mm光斑大小，確保IC芯片微小浮起的穩(wěn)定檢測。

相關(guān)產(chǎn)品

智能激光傳感器E3NC

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3316/

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